OE4000 – Multifunktionale Charakterisierung rauscharmer Laserquellen
Der OE4000 HI-Q® Multifunctional Laser Noise Analyzer von OEwaves ermöglicht die hochpräzise Charakterisierung von CW-Laserquellen hinsichtlich Laserlinienbreite, Phasen- und Frequenzrauschen, Relative Intensity Noise (RIN) sowie Frequenzstabilität. Damit lassen sich zentrale spektrale und zeitliche Eigenschaften moderner schmalbandiger Laser mit einem einzigen Messsystem untersuchen.
Der OE4000 wurde insbesondere für Anwendungen entwickelt, bei denen eine hohe Kohärenz, geringe Linienbreite und niedriges Laserrauschen entscheidend sind. Die vollautomatische Messung ermöglicht eine schnelle und reproduzierbare Charakterisierung sowohl in Forschung und Entwicklung als auch in anspruchsvollen Test- und Messaufgaben.
Homodyne Messverfahren ohne Referenzlaser
Der OE4000 verwendet ein homodynes Messverfahren zur Analyse extrem niedrigen Phasenrauschens von CW-Laserquellen. Ein wesentlicher Vorteil dieses Verfahrens ist, dass keine zusätzliche rauscharme Referenzlaserquelle benötigt wird.
Dadurch reduziert sich der experimentelle Aufwand erheblich und auch Laserquellen mit sehr geringer Linienbreite können komfortabel charakterisiert werden. Die Auswertung umfasst sowohl die intrinsische als auch die effektive FWHM-Linienbreite.
Umfassende Analyse von Laserrauschen
Neben der klassischen Linienbreitenmessung ermöglicht der OE4000 eine wesentlich umfassendere Analyse der Laserquelle. Das System kann Phasen- und Frequenzrauschen, Relative Intensity Noise und Frequenzstabilität erfassen und stellt damit wichtige Messgrößen für die Bewertung hochstabiler Laserquellen bereit.
Mit einer Frequenzauflösung von 0,1 Hz bis 200 kHz und einem Noise Floor von −160 dBc/Hz bei Frequenzen oberhalb 1 MHz eignet sich das System für die Untersuchung besonders rauscharmer CW-Laser.
Großer Wellenlängenbereich
Der OE4000 ist in mehreren Konfigurationen für Wellenlängenbereiche zwischen 400 und 2200 nm erhältlich. Dadurch können unterschiedlichste Laserquellen vom sichtbaren Spektralbereich bis in den nahen Infrarotbereich charakterisiert werden.
Das kompakte 3U-/19-Zoll-Racksystem kann über USB oder RS-232 gesteuert und auch remote betrieben werden. Die Kombination aus automatisierter Messung und benutzerfreundlicher Bedienung erleichtert sowohl einzelne Charakterisierungsmessungen als auch den Einsatz in wiederkehrenden Testabläufen.
Typische Anwendungen
Der OE4000 eignet sich insbesondere für Anwendungen, bei denen die spektrale Reinheit und Stabilität einer Laserquelle entscheidend sind:
- Interferometrische optische Sensorik
- LIDAR
- Optische Metrologie und Spektroskopie
- Gas-Sensorik
- Akustische Sensorik
- Temperatur- und Dehnungsmessung mit B-OTDR
- Kohärente optische Kommunikation
- Forschung, Entwicklung und Test & Measurement
Diese Anwendungsfelder werden von OEwaves ausdrücklich für die HI-Q® Test- und Messsysteme genannt.
Vorteile des OE4000
- Messung von Laserlinienbreite und Phasen-/Frequenzrauschen
- Intrinsische und effektive FWHM-Linienbreitenanalyse
- RIN- und Frequenzstabilitätsmessung
- Keine rauscharme Referenzlaserquelle erforderlich
- Mehrere Wellenlängenbereiche zwischen 400 und 2200 nm
- Schnelle Echtzeitmessung
- Remote-Betrieb möglich
- Kompaktes 3U-/19-Zoll-Racksystem
OE4000 von OEwaves
Der OE4000 HI-Q® Multifunctional Laser Noise Analyzer kombiniert mehrere wichtige Verfahren zur Charakterisierung hochstabiler Laserquellen in einem System. Damit eignet er sich besonders für Anwendungen, bei denen neben der reinen Laserlinienbreite auch Phasenrauschen, Frequenzrauschen, Intensitätsrauschen und Langzeitstabilität bewertet werden müssen.
Soliton unterstützt Sie bei der Auswahl der geeigneten OE4000-Konfiguration für Ihre Laserquelle und den benötigten Wellenlängenbereich.
