Laserlinienbreite-Analysator

  • Bestimmung der Laserlinienbreite bis < 0,5 Hz
  • Genaueste Messung des Phasenrauschens
  • Genaueste Messung des Intensitätsrauschens RIN
  • Anwendung für Laserwellenlängen 500 – 2100 nm

Ansprechpartner: Dr. Wolf-Dieter Wagner

 

Basierend auf einer verfeinerten Homodyne Technik bieten die OE4000 und OE 4001 Systeme von OEwaves die genaueste Bestimmung der Lasereigenschaften von schmalbandigen single frequency cw Lasern. Über einen wählbaren Offset Bereich können Linienbreite, Phasenrauschen und Intensitätsrauschen hoch präzise gemessen werden. Da OEwaves selbst extrem schmalbandige und rauscharme SF Laser herstellt welche für Satellitenkommunikation oder im anspruchsvollen Telekommunikationsbereich eingesetzt werden wurden die optischen Testgeräte entsprechend optimiert.

Hervorzuheben ist auch der große Wellenlängenbereich mit 500 nm – 2100 nm für den die Geräte genutzt werden.

Anwendungen

  • Test von Telekommunikations-DFB-Dioden C-Band
  • Rauscharme Satellitenkommunikation – space uplinks
  • Quanten Computing – Locking noise reduction
  • Hochgenauer Test von SF Seed Lasern

Optionen

  • Ultra Noise Option < 0.2 Hz
  • High noise Option 1250 Hz
  • Low Optical input power range
  • Messung des Relative Intensity Noise RIN zusätzlich zum Phasenrauschen
  • Separates RIN Messgerät OE4001 über größeren Offset Range

Datenblätter

OEwaves OE4000

OEwaves OE4001

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