Charakterisierung von Dünnfilmsolarzellen
Zusammen mit dem IRDEP (Insitute of Research and Development on Photovoltaic Energy) hat die Firma Photon etc einen PL- Mapper entwickelt zur Charakterisierung von Dünnfilmsolarzellen.
Um Fehlstellen in einem Schichtsystem wie zum Beispiel bei LEDs, OFETs oder Solarzellen frühzeitig zu erkennen, werdem häufig Photolumineszenzverfahren angewandt. Bei diesen lichtschwachen Prozessen kann der Hyperspectral Imager die Effizenz bzw. Durchsatz durch seine hohe Transmission von bis zu 80% erhöhen und Fehlstellen mit einer spektralen Auflösung von bis zu 0,3 nm detektieren. Der Ort und die Größe der Fehlstelle wird über eine Abbildungsoptik direkt auf der Array-Kamera dargestellt. Eine xy- Scanvorrichtung, wie sie ein klassisches Spektrometer benötigt, entfällt bei diesem Aufbau. Neben der Photolumineszenz kann auch die Elektrolumineszenz und die diffuse Reflektion mit dem selben Equipment gemessen werden. Egal, ob Sie ganze Zellen oder nur winzige Bereiche untersuchen wollen, der Hyperspectral Imager kann sowohl für makroskopische als auch für mikroskopische Anwendungen ausgelegt werden.
