ThetaMetrisis bietet eine Reihe hochpräziser Systeme zur Messung und Charakterisierung von Schichtdicken, die auf der Weißlicht-Reflexionsspektroskopie (WLRS) basieren. Mit diesen Schichtdickenmessgeräten für transparente Schichten messen Sie selbst kleinste Schichten verschiedenster Materialien. Durch die Verwendung einer Breitbandlichtquelle, eines Spektrometers (VIS-NIR möglich) und die Koppelung mittels Lichtfasern erfassen Sie auch komplexe Schichtstapel und charakterisieren deren unterschiedliche Schichten.
Unsere Systeme arbeiten, indem Lichtstrahlen nach deren Reflexion an übereinanderliegenden Schichtoberflächen interferieren. Diese Interferenz ermöglicht Ihnen die genaue Berechnung der Schichtdicke sowie weiterer relevanter Parameter. Wir bieten Ihnen eine breite Auswahl an Systemen, die von einfachen Standsystemen für Messungen an geraden Oberflächen bis hin zu Spezialanwendungen reichen. Sie können sogar komplexere Strukturen wie gekrümmte Linsen messen. Dabei setzen wir eine an eine Faser gekoppelte Aufsetzeinheit ein.
Für besondere Anwendungen können Sie Ihr Schichtdickenmessgerät für transparente Schichten auch an ein Mikroskop koppeln, um stark gekrümmte Oberflächen präzise zu messen oder Störfaktoren wie Rauheiten zu minimieren.
Unsere Systeme finden breite Anwendung in der Dickenbestimmung von Siliziumschichten auf Wafern. Zum Beispiel in der Beschichtungsmessung auf Elektronikteilen sowie an Linsen und KFZ-Scheinwerfern. Sie profitieren von einer schnellen, zerstörungsfreien und genauen Charakterisierung von dünnen Schichten und Beschichtungen auf einer Vielzahl von Materialien. Mit ihrer Vielseitigkeit und Benutzerfreundlichkeit sind die Schichtdickenmessgeräte für transparente Schichten von ThetaMetrisis ideal für den Einsatz in Forschung und Entwicklung, Qualitätskontrolle und Produktion.
