Wellenfrontkamera – High Res

  • Simultane Phasen- und Intensitätsmessung
  • Spektralbereich 400–900 nm
  • Hochauflösender CMOS-Sensor
  • Integration über C-/CS-Mount
  • USB 3.0 + externer Trigger
MZ

Michael Zerbin

Laser, Messtechnik, Spektroskopie


Präzise Phasenbildgebung mit der Wellenfrontkamera – High Res

Die TIKEI Cam von Silios ist eine leistungsstarke Wellenfrontkamera – High Res, die speziell für die quantitative Phasenbildgebung (QPI) und die detaillierte optische Wellenfrontanalyse entwickelt wurde. In wissenschaftlichen sowie industriellen Anwendungen setzt diese Kamera Maßstäbe in der Charakterisierung optischer Systeme.

Durch die innovative Kombination eines hochauflösenden CMOS-Sensors mit einer mikro-optischen Struktur erfasst die Wellenfrontkamera – High Res Intensitäts- und Wellenfrontinformationen simultan. Da dieser Vorgang innerhalb eines einzigen Aufnahmezyklus (Single-Shot) erfolgt, lassen sich selbst dynamische Proben ohne Zeitverlust präzise analysieren.

Vorteile der Wellenfrontkamera – High Res in der Anwendung

Der Arbeitsbereich dieser High-Resolution-Lösung liegt im sichtbaren Spektralbereich von 400 nm bis 900 nm. Dank der besonders feinen Pixelstruktur ermöglicht die Wellenfrontkamera – High Res eine extrem hohe räumliche Auflösung sowie eine hochpräzise Rekonstruktion der Wellenfront-Phasen.

Typische Anwendungen sind:

  • quantitative Phasenmikroskopie (QPI)

  • Zell- und Bioprobenanalyse

  • Materialcharakterisierung

  • Nanophotonik

  • optische Systemdiagnostik

Die TAKUME Cam eignet sich besonders für Anwendungen, bei denen hochauflösende Bildgebung und präzise Wellenfrontmessung kombiniert werden müssen.

 

Vergleich der Silios Wellenfrontkameras:

 

Modell Spektralbereich Hauptstärke Sensorauflösung Wellenfrontauflösung Technologie Typische Anwendungen
MAKATEA Cam 400–900 nm (sichtbar) Sehr hohe Phasensensitivität (< 1 nm RMS) 2048 x 2048 (4.2 MP) 680 x 680 QLSI (Quadriwave Lateral Shearing Interferometry) Quantitative Phasenmikroskopie, Zellanalyse, label-freie Mikroskopie
TIKEI Cam 400–900 nm (sichtbar) Hohe räumliche Auflösung für Wellenfrontanalyse 4500 x 4500 ( 20 MP) 1500 x 1500 Mikro-optische Wellenfrontstruktur Mikroskopie, Materialanalyse, optische Systemdiagnostik
TAKUME SWIR Cam 900–1700 nm (SWIR) Wellenfrontmessung im Infrarotbereich 1296 × 1032 (1.3 MP) 432 × 344 COLOR-SHADES® Technologie Metasurface-Messungen, Nanopartikel-Analyse, optische Metrologie

Technische Daten

  • Spektralbereich: 400–900 nm

  • Sensorauflösung: 5472 × 3648 Pixel (20,7 MP)

  • Pixelgröße: ca. 2,4 µm

  • Wellenfront-Bild: ca. 1600 × 1600 Pixel

  • Phasensensitivität: < 1 nm RMS

  • Bit-Tiefe: 10 Bit

  • Schnittstelle: USB 3.0

  • Montage: C- / CS-Mount

Typische Anwendungen

  • Quantitative Phase Imaging (QPI) in der Zell- und Gewebemikroskopie
  • Hochauflösende optische Analyse von Strukturen und Materialien
  • Nanostruktur- und Nanophotonik-Untersuchungen
  • Wellenfront- und Phasenprofilmessung
  • Oberflächen-Topographie-Analysen
  • Forschung & Entwicklung in Physik, Biologie und Materialwissenschaft
  • Optische Systemdiagnostik und Kalibrierun

Video 1

Video 2

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