Wellenfrontkamera für präzise Phasen- und Intensitätsmessung
Die MAKATEA Cam von Silios ist eine kompakte Wavefront-Imaging-Kamera für quantitative Phasenbildgebung (QPI) in wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen.
Durch die QLSI-Technologie (Quadriwave Lateral Shearing Interferometry) erfasst das System Intensitäts- und Phaseninformationen simultan und ermöglicht damit eine hochsensitive Analyse optischer Wellenfronten.
Der integrierte mikro-optische Gitteraufbau vor dem CMOS-Sensor erlaubt die direkte Rekonstruktion der Wellenfront sowie die gleichzeitige Aufnahme eines Intensitätsbildes. Dadurch lassen sich Probenstrukturen und optische Systeme quantitativ charakterisieren.
Die Kamera arbeitet im sichtbaren Spektralbereich von 400–900 nm und erreicht eine Phasensensitivität von < 1 nm RMS. Damit eignet sich das System besonders für Anwendungen, bei denen sehr kleine optische Veränderungen detektiert werden müssen.
Typische Einsatzbereiche sind:
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quantitative Phasenmikroskopie
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label-freie Zellanalyse
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Nanophotonik
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Materialforschung
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optische Wellenfrontanalyse
Dank des kompakten Designs und der C-/CS-Mount-Schnittstelle lässt sich die Kamera einfach in bestehende Mikroskopie- oder Messsysteme integrieren. Die Datenübertragung erfolgt über USB 3.0, optional steht ein externer Trigger für synchronisierte Messungen zur Verfügung.
Für erweiterte Anwendungen steht das WaveFront LAB SDK zur Verfügung. Damit können Rohdaten, Wellenfrontkarten, Gradienten- und Transmissionsbilder in Echtzeit visualisiert und weiterverarbeitet werden.
Vergleich der Silios Wellenfrontkameras:
| Modell | Spektralbereich | Hauptstärke | Sensorauflösung | Wellenfrontauflösung | Technologie | Typische Anwendungen |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MAKATEA Cam | 400–900 nm (sichtbar) | Sehr hohe Phasensensitivität (< 1 nm RMS) | 2048 x 2048 (4.2 MP) | 680 x 680 | QLSI (Quadriwave Lateral Shearing Interferometry) | Quantitative Phasenmikroskopie, Zellanalyse, label-freie Mikroskopie |
| TIKEI Cam | 400–900 nm (sichtbar) | Hohe räumliche Auflösung für Wellenfrontanalyse | 4500 x 4500 ( 20 MP) | 1500 x 1500 | Mikro-optische Wellenfrontstruktur | Mikroskopie, Materialanalyse, optische Systemdiagnostik |
| TAKUME SWIR Cam | 900–1700 nm (SWIR) | Wellenfrontmessung im Infrarotbereich | 1296 × 1032 (1.3 MP) | 432 × 344 | COLOR-SHADES® Technologie | Metasurface-Messungen, Nanopartikel-Analyse, optische Metrologie |
