Vielseitiges Präzision-Profilometer für Forschung und Industrie
Das Präzision-Profilometer NanoCam HD von 4D Technology ist ein hochentwickeltes Messgerät zur präzisen Analyse von Oberflächenrauheiten. Es ermöglicht die berührungslose Messung von Oberflächenstrukturen mit sub-Angström-Auflösung und ist ideal für Anwendungen in der Optik, Halbleiterindustrie und Materialwissenschaft. Dank seiner kompakten Bauweise und der Möglichkeit zur Integration in automatisierte Systeme bietet das NanoCam HD maximale Flexibilität für verschiedenste Messaufgaben.
Technische Merkmale
Das Präzision-Profilometer NanoCam HD nutzt die patentierte Dynamic Interferometry®-Technologie, um schnelle und präzise Messungen durchzuführen. Mit einer vertikalen Auflösung von bis zu 1 Å und einer Messzeit von weniger als 100 Mikrosekunden liefert es zuverlässige Ergebnisse, selbst in vibrationsreichen Umgebungen. Die integrierte 5-Megapixel-Kamera mit 12-Bit-Tiefe und das 460 nm LED-Licht ermöglichen eine detaillierte Erfassung der Oberflächentopografie. Die mitgelieferte 4Sight Focus™-Software bietet umfangreiche Analysefunktionen gemäß ISO 25178 und unterstützt die Auswertung von 2D- und 3D-Oberflächenprofilen.
Anwendungsbereiche des Präzision-Profilometers
Das Präzision-Profilometer NanoCam HD findet Anwendung in verschiedenen Bereichen der Forschung und Industrie. In der Optikindustrie dient es zur Qualitätskontrolle von Linsen und Spiegeln. In der Halbleiterfertigung ermöglicht es die Überwachung von Oberflächenrauheiten auf Wafern. Auch in der Materialwissenschaft wird es zur Charakterisierung von Oberflächenstrukturen eingesetzt. Durch die Möglichkeit zur Integration in automatisierte Fertigungsprozesse eignet sich das NanoCam HD auch für den Einsatz in der Serienproduktion.
