Die Filmdickenmessgeräte von Semiconsoft eignen sich hervorragend um dünne transparente Schichten im Dickenbereichen von 1nm bis 2 mm zu messen. Das Prinzip basiert auf den Gesetzmäßigkeiten der Reflektometrie.
Mit diesen Spektrometern bietet sich auch die die Möglichkeit mehrere übereinaderliegende Schichten zu betrachten und deren Dicke zu bestimmen. Bei den Systemen von Semiconsoft erwerben Sie vor allem flexible und anpassbare Messgeräte. Diese sind bei Änderungen im Produktionsprozess beliebig erweiterbar. Verglichen mit gängigen Ellipsometern tritt vor allem der Kostenaspekt in den Vordergrund.
Sowohl im Labor als Einzelmesssystem oder auch Inline für automatisierte Messungen, eignen sich die verschiedenen Aufbauten ausgezeichnet. Zudem können auch größere Flächen durch die ausgeklügelte Mapping Funktion betrachtet werden.
