Wellenfrontkamera – High Res

  • Simultane Phasen- und Intensitätsmessung
  • Spektralbereich 400–900 nm
  • Hochauflösender CMOS-Sensor
  • Integration über C-/CS-Mount
  • USB 3.0 + externer Trigger

Ansprechpartner: Hr. Zerbin

Wellenfrontkamera für präzise Phasen- und Intensitätsmessung

Die TIKEI Cam von Silios ist eine leistungsstarke Wavefront-Imaging-Kamera für quantitative Phasenbildgebung (QPI) und optische Wellenfrontanalyse in wissenschaftlichen und industriellen Anwendungen.

Durch die Kombination eines hochauflösenden CMOS-Sensors mit einer mikro-optischen Wellenfrontstruktur erfasst die Kamera Intensitäts- und Wellenfrontinformationen simultan innerhalb eines einzigen Aufnahmezyklus. Dadurch lassen sich optische Systeme und Proben präzise charakterisieren.

Der Arbeitsbereich der Kamera liegt im sichtbaren Spektralbereich von 400–900 nm. In Kombination mit der feinen Pixelstruktur ermöglicht dies eine hohe räumliche Auflösung sowie eine präzise Rekonstruktion der Wellenfront.

Dank des kompakten Designs und der C-/CS-Mount-Kompatibilität lässt sich die Kamera einfach in bestehende Mikroskopie- oder Messsysteme integrieren. Die Datenübertragung erfolgt über USB 3.0, zusätzlich steht ein externer Trigger für synchronisierte Messabläufe zur Verfügung.

Typische Anwendungen sind:

  • quantitative Phasenmikroskopie (QPI)

  • Zell- und Bioprobenanalyse

  • Materialcharakterisierung

  • Nanophotonik

  • optische Systemdiagnostik

Die TAKUME Cam eignet sich besonders für Anwendungen, bei denen hochauflösende Bildgebung und präzise Wellenfrontmessung kombiniert werden müssen.

 

Technische Daten

  • Spektralbereich: 400–900 nm

  • Sensorauflösung: 5472 × 3648 Pixel (20,7 MP)

  • Pixelgröße: ca. 2,4 µm

  • Wellenfront-Bild: ca. 1600 × 1600 Pixel

  • Phasensensitivität: < 1 nm RMS

  • Bit-Tiefe: 10 Bit

  • Schnittstelle: USB 3.0

  • Montage: C- / CS-Mount

Typische Anwendungen

  • Quantitative Phase Imaging (QPI) in der Zell- und Gewebemikroskopie
  • Hochauflösende optische Analyse von Strukturen und Materialien
  • Nanostruktur- und Nanophotonik-Untersuchungen
  • Wellenfront- und Phasenprofilmessung
  • Oberflächen-Topographie-Analysen
  • Forschung & Entwicklung in Physik, Biologie und Materialwissenschaft
  • Optische Systemdiagnostik und Kalibrierun
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