Präzise Phasenbildgebung mit der Wellenfrontkamera – High Res
Die TIKEI Cam von Silios ist eine leistungsstarke Wavefront camera - High Res, die speziell für die quantitative Phasenbildgebung (QPI) und die detaillierte optische Wellenfrontanalyse entwickelt wurde. In wissenschaftlichen sowie industriellen Anwendungen setzt diese Kamera Maßstäbe in der Charakterisierung optischer Systeme.
Durch die innovative Kombination eines hochauflösenden CMOS-Sensors mit einer mikro-optischen Struktur erfasst die Wavefront camera - High Res Intensitäts- und Wellenfrontinformationen simultan. Da dieser Vorgang innerhalb eines einzigen Aufnahmezyklus (Single-Shot) erfolgt, lassen sich selbst dynamische Proben ohne Zeitverlust präzise analysieren.
Vorteile der Wellenfrontkamera – High Res in der Anwendung
Der Arbeitsbereich dieser High-Resolution-Lösung liegt im sichtbaren Spektralbereich von 400 nm bis 900 nm. Dank der besonders feinen Pixelstruktur ermöglicht die Wavefront camera - High Res eine extrem hohe räumliche Auflösung sowie eine hochpräzise Rekonstruktion der Wellenfront-Phasen.
Typical applications are
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quantitative phase microscopy (QPI)
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Cell and biosample analysis
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Material characterization
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Nanophotonics
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Optical system diagnostics
The TAKUME Cam is particularly suitable for applications in which High-resolution imaging and precise wavefront measurement must be combined.
Comparison of the Silios wavefront cameras:
| Model | spectral range | Main strength | Sensor resolution | Wavefront resolution | Technology | Typical applications |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MAKATEA Cam | 400-900 nm (visible) | Very high phase sensitivity (< 1 nm RMS) | 2048 x 2048 (4.2 MP) | 680 x 680 | QLSI (Quadriwave Lateral Shearing Interferometry) | Quantitative phase microscopy, cell analysis, label-free microscopy |
| TIKEI Cam | 400-900 nm (visible) | High spatial resolution for wavefront analysis | 4500 x 4500 ( 20 MP) | 1500 x 1500 | Micro-optical wavefront structure | Microscopy, material analysis, optical system diagnostics |
| TAKUME SWIR Cam | 900-1700 nm (SWIR) | Wavefront measurement in the infrared range | 1296 × 1032 (1.3 MP) | 432 × 344 | COLOR-SHADES® technology | Metasurface measurements, nanoparticle analysis, optical metrology |
