The TAKUME camera from SILIOS Technologies ist eine Snapshot-Wellenfrontkamera für die Analyse optischer Systeme im kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR). Sie ermöglicht die direkte Aufnahme von Wellenfrontbildern und Intensitätsdaten in einem einzigen Messvorgang und eignet sich damit für präzise optische Charakterisierung und Metrologie.
Die Kamera basiert auf der COLOR-SHADES® Technologie, bei der mikro-optische Strukturen direkt auf einen Bildsensor hybridisiert werden. Dieses Verfahren erlaubt eine kompakte Bauweise und eine schnelle Wellenfrontanalyse ohne zusätzliche optische Komponenten.
Mit einer nativen Sensorauflösung von 1296 × 1032 Pixeln (1,3 MP) und einer Wellenfrontauflösung von 432 × 344 Pixeln liefert die TAKUME Kamera hochaufgelöste Wellenfrontdaten für anspruchsvolle Anwendungen in Forschung und Industrie.
Der spektrale Arbeitsbereich der Kamera liegt im SWIR-Bereich von 900 bis 1700 nm, wodurch sie sich besonders für Anwendungen eignet, bei denen klassische sichtbare Kameras nicht eingesetzt werden können.
Comparison of the Silios wavefront cameras:
| Model | spectral range | Main strength | Sensor resolution | Wavefront resolution | Technology | Typical applications |
|---|---|---|---|---|---|---|
| MAKATEA Cam | 400-900 nm (visible) | Very high phase sensitivity (< 1 nm RMS) | 2048 x 2048 (4.2 MP) | 680 x 680 | QLSI (Quadriwave Lateral Shearing Interferometry) | Quantitative phase microscopy, cell analysis, label-free microscopy |
| TIKEI Cam | 400-900 nm (visible) | High spatial resolution for wavefront analysis | 4500 x 4500 ( 20 MP) | 1500 x 1500 | Micro-optical wavefront structure | Microscopy, material analysis, optical system diagnostics |
| TAKUME SWIR Cam | 900-1700 nm (SWIR) | Wavefront measurement in the infrared range | 1296 × 1032 (1.3 MP) | 432 × 344 | COLOR-SHADES® technology | Metasurface measurements, nanoparticle analysis, optical metrology |
