Überblick über unser Angebot an AFM Systemen

Definition

Die Rasterkraftmikroskopie (AFM) ist eine hochauflösende Rastermethode zur Analyse von Oberflächen auf der Nano- und Mikrometerebene. Diese Technik ermöglicht die Abbildung der Topographie von Materialien mit atomarer Auflösung sowie die Messung lokaler mechanischer, elektrischer und magnetischer Eigenschaften. Somit ist Rasterelekronenmikroskop ein vielseitiges Werkzeug für die Charakterisierung von Oberflächenstrukturen und -eigenschaften.

Unser Rasterelektronenmikroskop 

Unser Portfolio umfasst ein kombiniertes System, das die Funktionalitäten eines Rasterelektronenmikroskops (REM) und eines AFM in einem Instrument vereint. Dieses Rasterelektronenmikroskop bietet den Vorteil, dass Anwender zunächst einen Überblick über die Probenoberfläche mittels REM erhalten und anschließend spezifische Bereiche detailliert im Nanobereich untersuchen können. Diese Kombination ermöglicht eine umfassende Charakterisierung von Materialien.

Funktionsweise und Möglichkeiten 

Die AFM basiert auf der Abtastung einer scharfen Spitze, die an einem Cantilever befestigt ist, über die Probenoberfläche. Die Wechselwirkungen zwischen der Spitze und der Oberfläche führen zu einer Auslenkung des Cantilevers, die mit einem Laser detektiert wird. Durch die präzise Registrierung dieser Auslenkungen entsteht ein dreidimensionales Bild der Oberflächentopographie. Darüber hinaus können verschiedene Betriebsmodi der AFM Informationen über Adhäsion, Reibung, Elastizität und andere Materialeigenschaften liefern.

Anwendungsbereiche 

Die AFM findet breite Anwendung in verschiedenen wissenschaftlichen und industriellen Bereichen. In der Materialwissenschaft wird sie zur Untersuchung von Nanomaterialien, Polymeren und Beschichtungen eingesetzt. Bei der Biologie ermöglicht sie die Visualisierung von Biomolekülen, Zellen und Geweben. In der Halbleiterindustrie dient die AFM zur Charakterisierung von Waferoberflächen und zur Fehleranalyse. Weitere Anwendungsfelder umfassen die Oberflächenchemie, die Pharmaforschung und die Nanotechnologie.

Auswahlkriterien 

Bei der Auswahl eines geeigneten AFM Systems sollten die spezifischen Anforderungen Ihrer Anwendung berücksichtigt werden. Dazu gehören die gewünschte Auflösung, der Messbereich, die verfügbaren Betriebsmodi und die Kompatibilität mit Ihren Proben. Auch die Stabilität des Systems und die Benutzerfreundlichkeit der Software sind relevante Faktoren. Unser erfahrenes Team bietet Unterstützung bei der Auswahl des optimalen AFM Systems für Ihre Forschungs- oder Qualitätskontrollaufgaben.

Kontakt für weitere Informationen zu AFM

Abschließend möchten wir Sie einladen, unser Angebot an AFM Systemen, einschließlich unseres kombinierten Rasterelektronenmikroskop / AFM, zu erkunden. Für detaillierte Informationen zu den einzelnen Produkten und zur Unterstützung bei der Auswahl des geeigneten Instruments stehen wir Ihnen gerne zur Verfügung. Kontaktieren Sie unser erfahrenes Team für weitere Informationen.