{"id":11774,"date":"2026-03-09T16:46:46","date_gmt":"2026-03-09T15:46:46","guid":{"rendered":"https:\/\/soliton-gmbh.de\/?post_type=product&p=11774"},"modified":"2026-05-07T18:25:33","modified_gmt":"2026-05-07T16:25:33","slug":"wavefront-camera-swir","status":"publish","type":"product","link":"https:\/\/soliton-gmbh.de\/en\/produkt\/wellenfrontkamera-swir\/","title":{"rendered":"Wavefront camera - SWIR"},"content":{"rendered":"

The TAKUME camera from SILIOS Technologies<\/strong> ist eine Snapshot-Wellenfrontkamera f\u00fcr die Analyse optischer Systeme im kurzwelligen Infrarotbereich (SWIR). Sie erm\u00f6glicht die direkte Aufnahme von Wellenfrontbildern und Intensit\u00e4tsdaten in einem einzigen Messvorgang und eignet sich damit f\u00fcr pr\u00e4zise optische Charakterisierung und Metrologie.<\/p>\n

Die Kamera basiert auf der COLOR-SHADES\u00ae Technologie, bei der mikro-optische Strukturen direkt auf einen Bildsensor hybridisiert werden. Dieses Verfahren erlaubt eine kompakte Bauweise und eine schnelle Wellenfrontanalyse ohne zus\u00e4tzliche optische Komponenten.<\/p>\n

Mit einer nativen Sensoraufl\u00f6sung von 1296 \u00d7 1032 Pixeln (1,3 MP) und einer Wellenfrontaufl\u00f6sung von 432 \u00d7 344 Pixeln liefert die TAKUME Kamera hochaufgel\u00f6ste Wellenfrontdaten f\u00fcr anspruchsvolle Anwendungen in Forschung und Industrie.<\/p>\n

Der spektrale Arbeitsbereich der Kamera liegt im SWIR-Bereich von 900 bis 1700 nm, wodurch sie sich besonders f\u00fcr Anwendungen eignet, bei denen klassische sichtbare Kameras nicht eingesetzt werden k\u00f6nnen.<\/p>\n

Comparison of the Silios wavefront cameras:<\/h4>\n

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Model<\/th>\nspectral range<\/th>\nMain strength<\/th>\nSensor resolution<\/th>\nWavefront resolution<\/th>\nTechnology<\/th>\nTypical applications<\/th>\n<\/tr>\n<\/thead>\n
MAKATEA Cam<\/strong><\/td>\n400-900 nm (visible)<\/td>\nVery high phase sensitivity (< 1 nm RMS)<\/td>\n2048 x 2048 (4.2 MP)<\/td>\n680 x 680<\/td>\nQLSI (Quadriwave Lateral Shearing Interferometry)<\/td>\nQuantitative phase microscopy, cell analysis, label-free microscopy<\/td>\n<\/tr>\n
TIKEI Cam<\/strong><\/td>\n400-900 nm (visible)<\/td>\nHigh spatial resolution for wavefront analysis<\/td>\n4500 x 4500 ( 20 MP)<\/td>\n1500 x 1500<\/td>\nMicro-optical wavefront structure<\/td>\nMicroscopy, material analysis, optical system diagnostics<\/td>\n<\/tr>\n
TAKUME SWIR Cam<\/strong><\/td>\n900-1700 nm (SWIR)<\/td>\nWavefront measurement in the infrared range<\/td>\n1296 \u00d7 1032 (1.3 MP)<\/td>\n432 \u00d7 344<\/td>\nCOLOR-SHADES\u00ae technology<\/td>\nMetasurface measurements, nanoparticle analysis, optical metrology<\/td>\n<\/tr>\n<\/tbody>\n<\/table>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

\"\"<\/a><\/p>\n